NAGIOS: RODERIC FUNCIONANDO

New advances in high-resolution optical microscopy

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New advances in high-resolution optical microscopy

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dc.contributor.advisor Saavedra Tortosa, Genaro
dc.contributor.advisor Martínez Corral, Manuel
dc.contributor.advisor García Sucerquia, Jorge Iván
dc.contributor.author Doblas Expósito, Ana Isabel
dc.contributor.other Departament d'Òptica es_ES
dc.date.accessioned 2015-09-21T09:53:30Z
dc.date.available 2015-09-21T09:53:30Z
dc.date.issued 2015 es_ES
dc.date.submitted 23-09-2013 es_ES
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10550/47190
dc.description.abstract Microscopy is the science which aim is to view objects that can not be distinguished with the naked eye because the size of those objects are not within its resolution range. A microscope produces an enlarged image of a sample under research. Since microscopy is an essential tool for live and material sciences, this Thesis is devoted to study thoroughly optical microscopy. Optical microscopes can be performed in di erent ways to provide resulting images with di erent features. The simplest optical microscope is the wide eld microscope. However it presents some limitations that needs to be overcome to obtain high-quality images. Among these limitations we nd: axial mechanical scanning to provide the whole structure of a sample, the presence of spherical aberration due to the refractive-index mismatches between the immersion medium of the microscope objective, the coverglass and the specimen, the limitation of spatial resolution imposed by di raction and the inability of obtaining quantitative phase images. Such limitations are analyzed in this Thesis and some solutions are proposed in order to provide better microscopic images. In particular, we have achieved: (1) a fast-axial scanning of thick samples in real time and without any mechanical movement, (2) an SA-invariant imaging system, (3) images with high lateral resolution and optical sectioning and (4) accurate quantitative phase images and without deteriorating the resolution limit imposed by di raction. All these ndings have been veri ed both theoretically and experimentally en_US
dc.description.abstract La microscopio ía tiene como nalidad observar muestras que no pueden distinguirse a simple vista por el ojo humano dado que el tamaño de ellas es menor que su l mite de resoluci on. Un microscopio produce una imagen ampliada de la muestra a analizar. Debido a que la microscopía es un instrumento b asico para la ciencia de la vida y de los materiales, en esta Tesis se desarrolla un estudio exhaustivo de la microscopía óptica. Los microscopios opticos se pueden con gurar de diferentes formas para producir im agenes con diferentes caracter sticas. El microscopio de campo amplio, el m as simple de todos, presenta algunas limitaciones que debe ser superadas para obtener im agenes de mayor calidad. Entre estas limitaciones encontramos: el barrido axial mec anico para proporcionar toda la informaci on de la estructura de la muestra, la presencia de aberraci ón esf érica debido a los desajustes del í ndice de refracci ón entre el medio de inmersi on del objetivo, el cubreobjetos y la muestra, la limitaci ón de la resoluci ón espacial impuesta por la difracci ón y la incapacidad de obtener im ágenes cuantitativas de fase. Tales limitaciones se analizan en esta Tesis y se proponen algunas soluciones con el fi n de proporcionar mejores im ágenes micros ópicas. En particular, nosotros hemos obtenido: (1) un r ápido barrido axial de muestras gruesas, en tiempo real y sin ning ún movimiento mecánico, (2) un microscopio invariante a la aberraci ón esf érica, (3) im agenes con alta resoluci on lateral y seccionado optico y (4) im agenes cuantitativas de fase precisas y sin deteriorar el l mite de resoluci on. Todos estos resultados se han demostrado tanto te oricamente como experimentalmente. es_ES
dc.format.extent 193 p. es_ES
dc.language.iso en es_ES
dc.subject optical microscopy es_ES
dc.title New advances in high-resolution optical microscopy es_ES
dc.type doctoral thesis es_ES
dc.subject.unesco UNESCO::FÍSICA es_ES
dc.embargo.terms 3 months es_ES

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