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Metrología por fibra óptica para la detección de pequeños desplazamientos

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Metrología por fibra óptica para la detección de pequeños desplazamientos

dc.contributor.author	Duarte, Julio Enrique
dc.contributor.author	Fernández-Morales, Flavio Humberto
dc.contributor.author	Moreno-Sereno, Mauricio
dc.contributor.author	Mora Almerich, José
dc.contributor.author	Andrés, Miguel V.
dc.date.accessioned	2022-03-04T18:53:26Z
dc.date.available	2022-03-04T18:53:26Z
dc.date.issued	2010
dc.identifier.citation	Duarte, Julio Enrique Fernández-Morales, Flavio Humberto Moreno-Sereno, Mauricio Mora Almerich, José Andrés, Miguel V. 2010 Metrología por fibra óptica para la detección de pequeños desplazamientos Revista Facultad de Ingenieria-Universidad de Antioquia 56 151 159
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/10550/81832
dc.description.abstract	En este trabajo se presenta una metodología para la medida de deflexiones en el rango de las micras en membranas termoneumáticas de silicio. El método se basa en la interferometría por fibra óptica con el cual se estudió el comportamiento estático de una membrana de silicio de 10 mm de grosor, 5 mm de lado y 300 mm de bulk, la cual se pegó sobre un porta muestras de vidrio. Por medida estática se entiende la medida de la deflexión de las membranas considerando únicamente la respuesta de éstas a la fuente de radiación infrarroja que las estimula.
dc.language.iso	spa
dc.relation.ispartof	Revista Facultad de Ingenieria-Universidad de Antioquia, 2010, num. 56, p. 151-159
dc.subject	Òptica
dc.subject	Silici Compostos
dc.title	Metrología por fibra óptica para la detección de pequeños desplazamientos
dc.type	journal article	es_ES
dc.date.updated	2022-03-04T18:53:26Z
dc.identifier.idgrec	064169
dc.rights.accessRights	open access	es_ES