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Estudio de la fiabilidad de los dispositivos HEMT de GaN | 235 |
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Estudio de la fiabilidad de los dispositivos HEMT de GaN | 4 | 14 | 3 | 0 | 4 | 3 | 1 |
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Te2_PM_formato_v16_PM.pdf | 33 |
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Espanya | 3 |
Costa Rica | 1 |
Suècia | 1 |
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Alcalá De Henares | 2 |
Alajuela | 1 |
Albal | 1 |